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JCM-7000是日本電子新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡。其不僅繼承了日本電子大型電鏡強大的功能，相對于大型掃描電鏡，其自動化程度高，操作簡單便捷，維護保養(yǎng)容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更高效便捷的服務于您的研究和工作。

JED-2300/2300F系列掃描電鏡能譜儀，可進行非導電元素微區(qū)分析。使用JEOL*的軟件“ Analysis Station”，通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯動使用，可以進行大范圍的觀察和分析，可實現分析結果和分析位置自動對應?？蛇m用于日本電子多種型號電鏡。

JSM-7900F 超高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡品是JEOL,是推出的新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的*空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時，操作性能簡單化。 該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其性能。

JSM-IT200鎢燈絲掃描電鏡是一款操作便捷、使用方便，性價比高的全新數字化鎢燈絲掃描電子顯微鏡，可廣泛的應用于各個領域。

JSM-7200F高速分析熱場發(fā)射電鏡是日本電子株式會社（JEOL Ltd.）于2015年推出的一款多功能、簡單易用的分析型場發(fā)射掃描電鏡，這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米級圖像顯微分析與微區(qū)化學成分分析的理想選擇。通過醉佳光闌角控制透鏡技術，JSM-7200F可以在任意加速電壓下實現小束斑尺寸的大分析束流進而可以輕松實現100nm以內的高空間分辨率分析。

JCM-7000臺式電鏡SEM自動化程度高，操作簡單便捷，維護保養(yǎng)容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更高效便捷的服務于您的研究和工作。